桌上型β射线测量仪器 MicroDerm MP-900

 
桌上型β射线测量仪器 MicroDerm MP-900
功能 ：用于测量电子工业电镀镀层厚度、手表及首饰加工镀层检验、生产过程镀层的监测。
用途 广泛应用于电子工业、手表及首饰加工等部门。
工作原理 ：放射性核素147Pm、204Ti、90PSr、147Pm(Pb)等产生的β射线具有穿透物质的能力。β射线通过被测介质时，会有一部分被介质吸收，使得射线穿过物质后其放射性强度减弱，通过测量放射性强度衰减与介质厚度之间的关系（有一个计算公式）来测量镀层度。
相关标准 　
产品规格
规格名称 说明 常见参数
测量范围 　
147Pm：0.1～2.4μm
204Ti ：1.0～11μm
90PSr：10～140μm
147Pm(Pb)：0～70%

重复性 　 好于1%
温度系数 　 0.2%/℃
准确度 　 ±10%
相对比较精确度 　 ±2%
时间常数 　 4s，8s1，6s，32s，1min，2min，4min，8min

美国UPA MicroDerm MP-900 涂镀层厚度无损测试仪

＊β射线反向散射测量技术

＊依照标准ASTM B567，ISO/DOS 3543和DIN 50 983的准则

＊应用在测量许多经典结构的镀层厚度，包括镍上镀金(Au/Ni),环氧树脂镀铜(Cu/epoxy)，光致抗蚀剂photoresist，铜上镀银(Ag/Cu)，科瓦铁钴镍合金上镀锡Sn/kovar，铁上镀氮化钛Ti-N/Fe，锡铅合金Sn-Pb。

＊ Microderm MP-900可以利用霍尔效应技术测量铜上镀镍(Ni/Cu)的厚度。

＊探头系统可以用于精确测量各种样品表面，从小零件(连接器和端子)到大零件(印制线路板)。

Microderm BBS厚度标准片(4点设定)包括：纯材料的底材，表面镀层的纯材料无限厚片和两块经过NIST(美国联邦标准技术委员会)认证的标准厚度的薄片。

高质量的制造技术确保尽可能精确的镀层厚度测量。

设计体现了无与伦比的易操作性和高效率。