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X荧光射线膜厚与元素(RoHS)分析仪 XRF-2000(R)系列
介绍：
X荧光射线膜厚分析仪是利用XRF原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层/镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。XRF-2000系列分为以下三种：
1. H-Type: 密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。
2. L-Type: 密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度约30mm以下。
3. PCB-Type: 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测。
4. R-Type: 结合膜厚量测，元素成份及含量分析功能(RoHS分析仪)。
应用:
测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分、含量或者是厚度，其可侦测元素的范围：Ti(22)~U(92)。RoHS: Al(13)选配。
行业:
五金类、螺丝类、PCB类、 连接器端子类行业、电镀类、金饰相关行业等。
特色:
非破坏，非接触式检测分析，快速精准。
可测量高达六层的镀层(五层厚度+底材)并可同时分析多种元素。
兼容Microsoft 微软作业系统之测量软件，操作方便，直接可用Office软件编辑报告。
标准配备 : 溶液分析软件，可以分析电镀液成份与含量。
准直器口径多种选择，可根据样品大小来选择准值器的口径。
移动方式： 全系列全自动载台电动控制，减少人为视差。
雷射 自动对焦，配合彩色CCD撷取影像使用point and shot功能。
独特2D与3D或任意位置表面量测分析。
元素成份与含量分析1ppm侦测极限，兼容于RoHS/WEEE/ELV有害物质检测分析。(选配)
标准ROI软件搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告。
光学20X影像放大功能，更能精确对位。
单位选择：mils、uin、mm、um。
优于美制仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的-佳优势。
仪器正常使用保固期一年，强大的专业技术支援及良好的售后服务。
测试方法符合ISO 3497、ASTM B568及DIN 50987。
X荧光射线膜厚分析仪是利用XRF原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层/镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。XRF-2000系列分为以下三种：
1. H-Type: 密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。
2. L-Type: 密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度约30mm以下。
3. PCB-Type: 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测。
4. R-Type: 结合膜厚量测，元素成份及含量分析功能(RoHS分析仪)。
应用:
测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分、含量或者是厚度，其可侦测元素的范围：Ti(22)~U(92)。RoHS: Al(13)选配。
行业:
五金类、螺丝类、PCB类、 连接器端子类行业、电镀类、金饰相关行业等。
特色:
非破坏，非接触式检测分析，快速精准。
可测量高达六层的镀层(五层厚度+底材)并可同时分析多种元素。
兼容Microsoft 微软作业系统之测量软件，操作方便，直接可用Office软件编辑报告。
标准配备 : 溶液分析软件，可以分析电镀液成份与含量。
准直器口径多种选择，可根据样品大小来选择准值器的口径。
移动方式： 全系列全自动载台电动控制，减少人为视差。
雷射 自动对焦，配合彩色CCD撷取影像使用point and shot功能。
独特2D与3D或任意位置表面量测分析。
元素成份与含量分析1ppm侦测极限，兼容于RoHS/WEEE/ELV有害物质检测分析。(选配)
标准ROI软件搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告。
光学20X影像放大功能，更能精确对位。
单位选择：mils、uin、mm、um。
优于美制仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的-佳优势。
仪器正常使用保固期一年，强大的专业技术支援及良好的售后服务。
测试方法符合ISO 3497、ASTM B568及DIN 50987。
基本规格:
| 元素侦测范围 | 从钛Ti (原子序Z=22)~铀U (Z=92)。铝(Al 13): 选配 |
| 数据搜集时间 | -小10秒 (sec) |
| X射线管 | 阳极 钨 (W) ( 选购配备: 钼 (Mo) 靶 铍 (Be) 窗 ) 密闭油冷式 |
| X射线产生器 | 电压: 0~50千伏 (kV) ( 选购配备: Micro Focus Tube ) 电流: 0-1mA, 计算机软件控制可调 -大功率: 50瓦 (W) |
| 准直器 |
单一固定式: 0.4/0.3/0.2/0.1/0.05/0.1x0.4/0.05x0.3mm (或客户指定)
选购配备自动式: 基本配五组0.4/0.3/0.2/0.1/0.05x0.4mm(或客户指定)
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| 安全性 | 小于1usv |
| 探测器类型 | 正比计数器 / PIN-Diode电子制冷式(选配) |
| 过滤器 | Co (Ni选配) |
| 脉冲处理器 | 高速微电脑数位脉冲处理器 |
| 类比数位转换 | 1024频道 |
| 放大器 | 自动控温前置放大器 |
| 电源 | 110-220V, 50/60赫兹 (Hz) |
| XRF-2000 Type-H，XYZ三轴 全自动行程 |
测试台尺寸：550550x100(mm) / 移动行程：200150x100(mm)
机器尺寸：610670x600(mm) / 重量： 约78kg
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| XRF-2000 Type-L，XYZ三轴 全自动行程 |
测试台尺寸：550550x30(mm) / 移动行程：200150x30(mm)
机器尺寸：610670x490(mm) / 重量：约72kg
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| XRF-2000 Type-PCB，XYZ三轴 全自动行程 |
测试台尺寸：不限x30mm(高度) / 移动行程：200150x30(mm)
机器尺寸：610670x490(mm) / 重量：约72kg
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